Verdens første helium-ion mikroskop på markedet - kvantespring i forhold til standard elektronmikroskop

ZEISS ORION™ er det første kommercielle helium-ion mikroskop på markedet. Det vil revolutionere elektronmikroskopien og være starten på en helt ny generation af mikroskoper med markant mindre diffusion, hidtil uset billedkontrast og langt bedre opløsning og dybdeskarphed. Zeiss har patentrettighederne til denne nye revolutionerende teknologi.

Standard elektronmikroskopets afløser
Carl Zeiss har med sin specialviden og ekspertise været førende i udviklingen inden for elektronmikroskopi, og Carl Zeiss er nu først med at sende afløseren for standard elektronmikroskopet på markedet. Brugerne af elektronmikroskopi i forskningsverdenen og den medicinske verden har ventet på den teknologi, der kunne reducere diffusionen og forbedre billedet. Den kommer nu med det nye ZEISS ORION™, der er baseret på helium-ion teknologi. Det udgør et kvantespring i forhold til standard elektronmikroskopet og giver et klarere billede, større dybde og opløsning, højere kontrast og stort set ingen emneopladning.

Fra elektron til atom
Det revolutionerende nye ved ORION™ er, at billedet i stedet for at blive genereret af elektroner, genereres af en helium-ion stråle, der dannes fra en kilde af helium-atomer. Fra denne kilde dannes en fin og ekstrem skarp stråle via en proces, som det har taget mange år at udvikle. Kort fortalt dannes en atomisk pyramide med en elektrisk ladet spids bestående af blot tre atomer. Her ioniseres helium-gas, og den resulterende stråle er ekstremt lys, tynd og skarp og kan fokuseres på ekstraordinært små emner.

Markant mindre diffusion
Elektronmikroskoper har altid haft problemer med diffusion. Det afhjælper helium-ion strålen i ORION™, fordi helium-ioner er 8000 gange tungere end elektroner. Den tynde helium-ion stråle med en markant større masse betyder, at den kan bore sig længere ned i emnet og sende flere og mere rene stråler retur. Det giver et fantastisk billede og en overlegen dybdeskarphed.

De tungere partikler fra helium-ion strålen spredes ikke i nær samme omfang ved overfladen, som tilfældet er med en elektronstråle. Denne mindre spredning betyder færre forstyrrelser og en stor forbedring af billedkvaliteten. Med ORION™ opnås en billedopløsning på 0,75 nm. Det bedste traditionelle elektronmikroskop har en opløsning på 1,0 nm.

Lettere skelnen mellem materialer
Spredningen af partikler ved overfladen er mindre pga. helium-ionernes større vægt. Men antallet af sekundære partikler, der dannes ved overfladeinteraktionen, er faktisk større. Det bevirker, at helium-ion mikroskopet giver en hidtil uset billedkontrast og gør det meget lettere for mikroskopets bruger at skelne mellem forskellige materialer.

Næsten ingen opladning
Opladning af emnet er kendt fra elektronmikroskopet, hvor mange emner ved kontakt med strålen udvikler en elektrisk ladning. Dette fænomen er stort set ikke til stede i ORION™. At skulle beskytte emnet med en guldbelægning eller sænke trykket for at undgå opladning er fortid med helium-ion mikroskopet fra Carl Zeiss.

April 2008